参考收费标准
无
开放机时安排
无
主要规格和技术参数
Tecnai F30场发射透射电镜主机，包括计算机工作站和单倾、低背景双倾等几种样品杆；数子化、一体化STEM透射扫描附件，包括HAADF探头；数子化、一体化EDX能谱仪系统，包括能谱频谱分析技术软件；数子化、一体化CCD相机；辅助设备包括冷却水机和空压机等。
Schottky 场发射灯丝
加速电压范围: 50kV~300kV
点分辨率: 0.20nm；线分辨率：0.10nm；信息分辨率：0.14nm
物镜球差系数Cs：1.2mm； 物镜色差系数Cc：1.4mm
聚焦长度：2.3mm；最小聚焦步长：0.3nm
最小束斑尺寸：0.3nm；最大会聚角：±12º
TEM放大倍数: 60×~1000,000×
选区衍射相机常数：35mm~2300mm
STEM放大倍数；50×~3000,000×（+8× zoom）
STEM图象分辨率：0.17 nm
样品台最大倾角：±40 º
样品台：计算机控制、全对中、侧插式5轴马达台（CompuStage）；x, y移动范围2mm；可存储和回复无数各维或5维位置，回复精度≤ 300nm，样品漂移≤ 1nm/min
样品真空度≤ 2.7×10-5Pa
EDX分析元素范围：铍Be~铀U92
能谱仪探头分辨率：≤ 138 ev; 峰背比20000:1
主要功能及特色
广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等内部超微结构图像观察，图像分析、处理。