场发射扫描电子显微镜 FESEM
场发射扫描电子显微镜 FESEM

联 系 人:  张仕慧

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生产厂家: 日本电子株式会社(JEOL)

型      号:  JSM-IT800

购买日期: 1970/01/01

参考收费标准
开放机时安排
主要规格和技术参数
1.分辨率: 高真空分辨率(二次电子):0.5 nm@15kV 高真空分辨率(二次电子):0.7 nm@1kV(不开减速) 高真空分辨率(二次电子):0.9 nm@500V(开减速模式) 2. 加速电压:0.01kV~30kV 3. 束流大小:3pA ~500nA 4. 放大倍率:10~200万倍 5. 元素分析范围: Be ~ U92
主要功能及特色
该仪器具有超高分辨率,能对各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。配备有高性能X射线能谱仪系统,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。 广泛用于材料、机械、物理、化学化工、生物、医学、药学、食品、环境、能源、地质矿物等领域的研究及产品分析,可以观察和分析上述微米、纳米级样品的表面特征,是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。