高级稳态瞬态荧光测量系统
高级稳态瞬态荧光测量系统

联 系 人:  魏巍

邮      箱: 

电      话: 

地      址:  分析测试中心中心2楼大门中心2楼204

生产厂家:

型      号:  QM4m

购买日期: 1970/01/01

参考收费标准
开放机时安排
主要规格和技术参数
光谱检测范围:185 ~ 1700nm 1. 信噪比:优于10000 : 1 2. 采样频率:50000点/秒 ~ 1点/100秒 3. 荧光寿命检测范围:100ps ~ 10s 4. 荧光寿命激发波长:235 ~ 990nm 连续可调谐 (常见激发波长有337nm,405nm,481nm) 5. 荧光瞬态数据采集模式:时域 (专利频闪分时计数原理) 6. 变温条件下荧光测量(77 ~ 320K) 7. 显微镜兴趣区域的荧光测量
主要功能及特色
高级稳态瞬态荧光测量系统是一套高性能荧光光谱测量系统,用于测试材料的激发发射光谱、磷光荧光寿命、量子化产率、变温及显微荧光测试。 主要应用于物理、化学、生物、医药和材料科学等研究领域荧光性能测试。